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理解電弧能的測(cè)量、對(duì)比和控制方法
隨著薄膜產(chǎn)品對(duì)品質(zhì)和性能指標(biāo)要求的增加，現(xiàn)代等離子體薄膜沉積工藝必須考慮到電弧不可避免的影響，并將盡可能減輕電弧導(dǎo)致的損壞。對(duì)于大多數(shù)等離子體工藝而言，識(shí)別、測(cè)量和限制打弧發(fā)生期間傳輸?shù)降入x子體內(nèi)的能量大小一直是需要考慮的最重要因素之一。
2023-03-09
電弧能 測(cè)量
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如何在Python或MATLAB環(huán)境中使用ACE快速評(píng)估數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器
評(píng)估板(EVB)及其配套軟件具有即插即用功能，可輕松評(píng)估ADI產(chǎn)品的性能。其圖形用戶界面(GUI)提供了直觀的方式，可進(jìn)行手動(dòng)配置并與該設(shè)備通信。但是，在更復(fù)雜的產(chǎn)品中，如果不能自動(dòng)處理這些重復(fù)性任務(wù)，那么在評(píng)估所有可用功能的同時(shí)，掃描產(chǎn)品的所有附加功能可能會(huì)變得非常耗時(shí)。
2023-03-07
Python 數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器 ADI
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一種使用Python來(lái)分析混合模式信號(hào)鏈中噪聲的簡(jiǎn)單方法
涉及對(duì)真實(shí)世界進(jìn)行敏感測(cè)量的應(yīng)用都是從準(zhǔn)確、精密的低噪聲信號(hào)鏈開(kāi)始。現(xiàn)代高度集成的數(shù)據(jù)采集器件通?？梢灾苯舆B接到傳感器輸出，在單個(gè)硅器件上執(zhí)行模擬信號(hào)調(diào)理、數(shù)字化和數(shù)字濾波，這極大地簡(jiǎn)化了系統(tǒng)電子組成。但是，要使這些現(xiàn)代器件發(fā)揮出色性能，并對(duì)它們進(jìn)行調(diào)試，仍然需要深入了解信號(hào)...
2023-03-06
Python 信號(hào)鏈 噪聲
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還在擔(dān)心溫度測(cè)量設(shè)計(jì)不可靠？這4種方法來(lái)保障
在工業(yè)應(yīng)用中，常用熱電阻測(cè)量設(shè)備的工作溫度，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)設(shè)備運(yùn)行狀態(tài)的監(jiān)測(cè)。若測(cè)溫系統(tǒng)異常，會(huì)直接增大工業(yè)設(shè)備損壞風(fēng)險(xiǎn)。因此，如何保障測(cè)溫系統(tǒng)對(duì)設(shè)備的有效監(jiān)測(cè)顯得尤為重要。
2023-03-01
工業(yè)應(yīng)用 熱電阻 測(cè)量
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歐洲首個(gè)開(kāi)放RAN天線測(cè)試中心于2023年3月啟用
天線測(cè)量解決方案領(lǐng)導(dǎo)者M(jìn)icrowave Vision Group（MVG）近日宣布，移動(dòng)網(wǎng)絡(luò)無(wú)線基礎(chǔ)設(shè)施的領(lǐng)先供應(yīng)商——安費(fèi)諾天線解決方案正在開(kāi)設(shè)歐洲第一個(gè)開(kāi)放式無(wú)線接入網(wǎng)有源天線的測(cè)試中心。
2023-02-23
RAN 天線測(cè)試
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R-Car DNN模擬器的介紹
本篇文章我們將介紹瑞薩為R-Car V4H提供的三種類型的DNN開(kāi)發(fā)模擬器，以及它們的使用情況和特點(diǎn)。
2023-02-20
R-Car DNN模擬器
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芯片溫度檢測(cè)，什么方法最有效？
下面幾種測(cè)溫方法，都不能完全適用于芯片各環(huán)節(jié)的溫度檢測(cè)，那么，如何才能實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)高效測(cè)溫？
2023-02-17
芯片 溫度檢測(cè)
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適用于低功耗信號(hào)鏈應(yīng)用的功率優(yōu)化技術(shù)
本文介紹用于在低功耗信號(hào)鏈應(yīng)用中實(shí)現(xiàn)優(yōu)化能效比的精密低功耗信號(hào)鏈解決方案和技術(shù)。本文將介紹功耗調(diào)節(jié)、功率循環(huán)和占空比等用于進(jìn)一步降低系統(tǒng)功耗的技術(shù)（不僅限于選擇低功耗產(chǎn)品，這有時(shí)并不夠）。還將探討如何使用通道時(shí)序控制器、FIFO和電壓監(jiān)控模塊等片內(nèi)特性來(lái)簡(jiǎn)化系統(tǒng)設(shè)計(jì)，并在主機(jī)控制...
2023-02-09
信號(hào)鏈 應(yīng)用 功率優(yōu)化
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采用創(chuàng)新數(shù)字預(yù)失真技術(shù)進(jìn)行ADC和音頻測(cè)試的高性能信號(hào)源
要測(cè)試精密儀器儀表，需要使用超低失真、低噪聲、高性能的信號(hào)發(fā)生器。新的產(chǎn)品通常需要保證性能指標(biāo)在較高的水平。有些參考設(shè)計(jì)（例如ADMX1002）利用高性能精密數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)簡(jiǎn)化了這一任務(wù)，這些轉(zhuǎn)換器具有出色的精度和分辨率水平。1此外，加入一種創(chuàng)新數(shù)字預(yù)失真算法可以進(jìn)一步增強(qiáng)測(cè)試信號(hào)的...
2023-01-27
數(shù)字預(yù)失真 ADC 音頻測(cè)試
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