【導讀】泰克推出業(yè)界最完整、最靈活的自動PCI Express 3.0 Tx、Rx測試套件，該套件全面的接收器和發(fā)射器解決方案為集成電路、主機和板卡設計人員提供一站式解PCI Express 3.0測試解決方案。
PCIe 3.0測試與調試
泰克公司日前宣布，推出業(yè)內針對PCI Express 3.0標準的，最靈活和最完整的自動化發(fā)射器 (Tx) 和接收器 (Rx) 一致性與調試測試解決方案。通過對BERTScope誤碼率分析儀系列的新產品增強以及PCI Express測試軟件，泰克現(xiàn)在可以為集成電路、主機和板卡設計人員提供一站式PCI Express 3.0測試解決方案。
PCI Express的每一代推出，都使得其變得更快和更復雜。在8 Gb/s的速度，PCI Express 3.0測試涉及復雜的Rx壓力條件作用 (stress conditioning)，BER一致性測試以及大量Tx一致性測試。另外，設計失敗時的調試還需要完全測試支持。憑借最新更新，泰克現(xiàn)在提供對PCI Express 3.0的物理層測試自動化與調試的業(yè)內最全面支持。
“PCIe3測試的許多方面——如鏈路訓練和Tx均衡檢測——都非常復雜，對工程師提出了極大的挑戰(zhàn)”，泰克高性能示波器總經理Brian Reich表示，“通過提供強大的自動化功能集，我們使復雜的PCIe3測試變得容易完成，同時確保得到更一致的結果。這意味著漫長而復雜的測試——如壓力眼圖校準、發(fā)射器一致性測試等——都將成為簡單很多的工作了。”
對于PCIe3 Rx測試，PCI-SIG測試規(guī)格要求的壓力碼型生成是自動化的，現(xiàn)在包括對時鐘倍頻和眼圖張開測試的綜合支持。另外，DUT環(huán)回控制也是自動化的，這簡化了測試過程，減少了得到測試結果的時間。支持這些功能的增強包括新DPP125C——其向壓力碼型添加了預加重，帶可變ISI的新BSAITS125集成式干擾合并器，以及新BSAPCI3自動校準、環(huán)回和鏈路訓練軟件。構成復雜Rx解決方案的其他組成部分包括一個用于共模干擾測試的泰克AFG3000任意波形/函數(shù)發(fā)生器和基于世界級CR286A系列時鐘恢復單元的PLL環(huán)路帶寬解決方案。BERTScope的這些補充部分消除了對第三方插件 (add-on) 的需要。
對于PCIe3 Tx測試，泰克通過將用于一致性測試的PCI-SIG SigTest實用軟件直接包括進其泰克DSA70000系列數(shù)字示波器上的TekExpress自動化框架增強了其解決方案。通過這一集成，更新后的PCE3軟件自動化了SigTest測試的測試儀器與DUT控制、碼型驗證、數(shù)據(jù)采集及分析，并允許對多項SigTest結果進行定制報告。PCE3軟件還在一致性測試失敗時提供向調試的無縫轉變。
供貨信息
泰克PCI Express 3.0 Tx、Rx測試與調試解決方案現(xiàn)已全球供貨。
