- 把讀/寫的訪問周期分離開來測量DDR2存儲設備
- 力科的WaveScan波形搜索與掃描特性可以找出Data信號
- WaveScan把測量過濾中所有符合測量標準的波形累積起來形成掃描疊加的軌跡圖
- 這幅余輝圖包含了全部捕獲的歷史波形軌跡
測量DDR2存儲設備需要把讀/寫的訪問周期分離開來。在DDR2中通過Strobe和Data總線之間的關系可以區(qū)分出來讀和寫的操作。如圖1所示，在讀操作時Data和Strobe的跳變是同步的，而在寫操作時Strobe的跳變則領先于Data。我們利用這種時序上的差異就可以分離出讀操作和寫操作。在圖1中，較低幅值的“讀”操作時，Data跳變與Strobe跳變同時發(fā)生，較高幅值的“寫”操作時，Strobe信號會領先于Data信號約750ps跳變。
圖 1: DDR2 波形顯示了 Strobe (紅色) 和 Data (黃色)信號之間的時序關系
力科的WaveScan波形搜索與掃描特性可以通過選擇Strobe和掃描疊加（ScanOverlay）圖中滿足條件的波形之間的時序關系找出Data信號。圖2是這種功能的一個例子。WaveScan的對話框設置為搜索建立時間（Hold Time）在500ps到1ns(750 ±250 ps)之間的波形。對話框右邊的標簽用來鑒別Strobe和Data信號。注意“Hold Clock”和“Hold Data”兩個對話框標簽，測量是對這兩個信號邊沿設定的。
圖2: 基于Data和Strobe信號跳變之間的保持時間用WaveScan隔離出寫操作
圖3顯示的是一個“risetime ”參數(shù)應用在掃描疊加軌跡中的例子。掃描疊加軌跡圖僅僅包括由WaveScan隔離出來的寫操作周期。
圖 3: P3 測量的是僅包含寫操作的掃描疊加軌跡中的每一個脈沖的上升時間（risetime）
圖4顯示的是另一項測量技術(shù)。在這里，被選定的一組寫周期用掃描縮放（ScanZoom）分離出來。參數(shù)門限進一步隔離出僅有12個寫周期并僅在信號正邊沿測量出兩個信號的時間差（P4）。WaveScan為您提供了一種可以測定DDR2設備的工具。
圖4: 使用ScanZoom和參數(shù)門限測量選定的寫操作
WaveScan會在左邊顯示的表格中列出每次捕獲中符合測量條件的所有波形特征。觸摸列表時會自動的對被選擇的特征放大顯示。這個例子中顯示的是一組“寫”操作狀態(tài)的縮放。每個符合測量標準的操作就像顯示出來的那樣用一個紅色方框描繪出輪廓。
WaveScan把測量過濾中所有符合測量標準的波形累積起來形成掃描疊加的軌跡圖（圖2中間的軌跡）。這幅余輝圖包含了全部捕獲的歷史波形軌跡。我們現(xiàn)在就可以對被選擇出來的整個波形組在掃描疊加軌跡圖上應用測量參數(shù)進行測量。你也可以在被選擇波形的縮放軌跡上應用測量參數(shù)進行測量。
