【導(dǎo)讀】EMI問(wèn)題一直都是電源類產(chǎn)品設(shè)計(jì)者所要面對(duì)的問(wèn)題，其關(guān)系到產(chǎn)品是否能夠順利進(jìn)入市場(chǎng)。那么，大家想過(guò)將示波器用于EMI的檢測(cè)嗎?本篇文章就將介紹這么一種方法，來(lái)使用示波器對(duì)EMI進(jìn)行調(diào)試。
示波器是一種較為常見的測(cè)試測(cè)量設(shè)備，其能夠?qū)⑷庋鄄豢梢姷秒娦盘?hào)轉(zhuǎn)化為能夠被肉眼看到的圖形，能夠幫助設(shè)計(jì)者對(duì)電路進(jìn)行檢測(cè)或著進(jìn)行數(shù)據(jù)的采集，在電子電力設(shè)備當(dāng)中占有較為重要的地位。EMI問(wèn)題一直都是電源類產(chǎn)品設(shè)計(jì)者所要面對(duì)的問(wèn)題，其關(guān)系到產(chǎn)品是否能夠順利進(jìn)入市場(chǎng)。那么，大家想過(guò)將示波器用于EMI的檢測(cè)嗎?本篇文章就將介紹這么一種方法，來(lái)使用示波器對(duì)EMI進(jìn)行調(diào)試。
早期的示波器并沒有能夠準(zhǔn)確捕捉EMI信號(hào)所必備的靈敏度，并且FFT頻譜分析功能也不夠完善，操作起來(lái)十分繁瑣。而在后來(lái)的發(fā)展當(dāng)中，一些示波器已經(jīng)發(fā)展出了能夠?qū)MI進(jìn)行調(diào)試的功能。今天將要介紹的這種方法利用輸入回路的共模電流進(jìn)行測(cè)量。
圖1
正確的測(cè)量方式如圖1所示，圖中，CI為共模干擾、DI為差模干擾，V1 = CI − DI、V2 = CI + DI、V3 = DI，R1、R2、R3、R4為接地電阻，C1為分布電容。
接下來(lái)的步驟較為簡(jiǎn)單，需要借助示波器來(lái)對(duì)V1、V2、V3的這三個(gè)參數(shù)的數(shù)值進(jìn)行測(cè)量，然后通過(guò)上述提到的關(guān)系式就能將EMI傳導(dǎo)干擾信號(hào)計(jì)算出來(lái)。但問(wèn)題是，在V1、V2、V3中還含有一個(gè)50周的交流信號(hào)，這個(gè)信號(hào)幅度相對(duì)于EMI信號(hào)來(lái)說(shuō)，非常高，其幅度是數(shù)百伏，而干擾信號(hào)一般只有幾十微伏到幾毫伏。由于示波器的動(dòng)態(tài)范圍很有限，無(wú)法同時(shí)觀測(cè)這兩個(gè)信號(hào)，必須要先對(duì)干擾信號(hào)與電網(wǎng)電壓進(jìn)行分離（用高通濾波器）。
另一點(diǎn)需要注意的是場(chǎng)地問(wèn)題，如果測(cè)試的環(huán)境不是在屏蔽室當(dāng)中，那么由于分布電容C1的數(shù)值很?。锤蓴_信號(hào)的內(nèi)阻很大），而示波器的輸入阻抗一般都很高，在V1、V2、V3中還會(huì)含有其它干擾信號(hào)，如果不仔細(xì)進(jìn)行分析，很難把本機(jī)的EMI干擾信號(hào)與外來(lái)干擾信號(hào)分辨出來(lái)。還有，由于分布電容C1的大小與設(shè)備對(duì)地的位置有關(guān)，每次測(cè)試結(jié)果可能都不一樣。
最后需要提醒大家的是，對(duì)EMC進(jìn)行的所有測(cè)試都需正式的測(cè)量?jī)x器、場(chǎng)地、權(quán)威部門制定的方案來(lái)進(jìn)行，否則就算通過(guò)其他方法得到了結(jié)果，也只能僅僅作為參考。
